测试选针规则加速可测性分析
Test Expert内置强大的测试选针规则，灵活丰富的参数设置功能，可详细设定规则细节（大小、距离、种类、数量、优先级、强制位置等），还可以设置多个选针规则系列，同时生成不同结果用于比较差异。同时其先进的测试优化算法，还可以保证最佳的测试选针结果。
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VayoPro-Test Expert 是一款适用于电子制造业快速DFT分析及测试程序快速制作的必备软件。软件最大化利用设计CAD数据与物料BOM数据，通过智能化地融入测试工艺要求，快速实现DFT/测试覆盖率的准确分析及ICT、飞针、AOI、X-ray测试程序制作，还可扩充测试夹具数据分析。使用该软件不仅可以将数天的DFT分析工作大幅缩短至数分钟，还可快速生成精细的测试及检测程序，极大缩短测试调试的时间，减少测试夹具成本。
提供内容丰富的可测试性分析报告
提供快捷高效的测试策略分析方式
优化选针结果减少夹具制作费用
灵活的参数设定加速测试程序开发
Test Expert内置强大的测试选针规则，灵活丰富的参数设置功能，可详细设定规则细节（大小、距离、种类、数量、优先级、强制位置等），还可以设置多个选针规则系列，同时生成不同结果用于比较差异。同时其先进的测试优化算法，还可以保证最佳的测试选针结果。
Test Expert可评估不同测试方式（ICT, AOI, AXI...）对制造缺陷的覆盖率，其测试覆盖的主要制造缺陷包括丢件、开路、短路、极性错误&错件等，便于决策测试方案。
Test Expert可以生成各种MDA/ICT/ATE/AXI/AOI/飞针精细测试程序，支持的测试设备有Keysight/Agilent, Teradyne/GenRad, Spea, TRI, Hioki, SRC, Takaya, Seica, ViTrox V810 &V510, Omron等，可帮助测试工程师高效应对生产准备。
Test Expert支持导入额外的阻焊层Gerber，验证下针位置接触性，对于被覆盖的测试位置可以重新定位。另外，Test Expert独有的网络连通（Net Link）功能可以帮助快速发现欧姆电阻、保险丝、开关等“连通”的网络，优化合并网络，从而提升测试网络覆盖率/可测率；或者保持同一测试覆盖率的前提下，减少测试用针，降低夹具成本。
Test Expert具备强大的夹具设计功能，可以设计出最优化的夹具，并输出各种夹具钻孔绕线等数据文档。
▪ 夹具数据输出（Nails/CNC钻孔/DXF针位图/Parts/载板……）
▪ 夹具再利用分析
▪ 测试针胶片图优化（设定针号显示间隔/针号绕线路径/区域分布）
Test Expert支持多种方式查询测试选针结果，如：按未选针原因、按网络名/编号、按测试针号等多种方式查询。同时支持Layout与原理图交互显示位置，以便快速诊断板子故障并及时维修。
Test Expert支持20多种行业ECAD数据，且能够自动识别ECAD数据类型；同时软件强大的解析（Parser）功能支持导入Text（*.txt）及Excel(*.xls)格式的BOM文件，且能够自动校验BOM数据，以便检查各种疏漏。
报告包含 13 个项目，内容丰富
报告形式灵活，支持文本、Excel、PDF及 html等格式
可评估不同测试方式(ICT,AOI,AXI······ )的覆盖率
覆盖主要制造缺陷如丢件、开路、短路、极性错误&错件
