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伴随着电子技术的高速发展，元器件迷你化和高密度化趋势以及其他新技术的出现，测试工艺所面临的挑战越发复杂，加之大环境下企业降本增效的高压要求，我们必须思考如何让测试工艺以更低成本、更高质高效的方式推进。望友测试分析及制程软件（VayoPro-Test Expert）提供一种智能自动化的测试解决方案，可帮助企业实现自动化高质效的测试工艺过程，助力提升测试效率，降低测试成本！
自动化可测试性分析，提升测试效率
智能化测试策略分析，优化测试方案
高效化夹具设计，降低夹具成本
快速程式开发，缩短程序制作时间望友测试分析与制程软件提供自动化的可测试性分析方法，实现对网络、元器件、引脚的全面自动化分析，快速得出可测试性结果，并输出结果报告，报告内容丰富详尽，包含覆盖率统计、统计图表、可测试性汇总、针点列表、并联元件等。
望友测试分析与制程软件（Test Expert）内置高效的串并联分析功能，可进行自动化的串并联分析与网络重组，确保测试值更准确，帮助减少大量计算时间，优化测试针点数量、简化测试步骤，提升测试覆盖率！
望友测试分析与制程软件（Test Expert）可帮助评估ICT\AOI\AXI等不同方式对制造缺陷的检测覆盖率，采用漏件、空焊、短路、极性错误、错件这五类典型制造缺陷进行元器件测试覆盖率的综合评估，相比传统”YES/NO”的方式更加细致准确，让测试盲点一目了然！
望友测试分析与制程软件（Test Expert）可进行自动化的ICT、MDA夹具设计，输出五档资料、CNC钻孔、DXF针位图、避让铣形图等夹具数据，生成针床绕线图等。并且可以依据ECN数据进行夹具再利用分析，输出再利用分析报告。助力企业实现高效化夹具设计，降低夹具成本！
望友测试分析与制程软件（Test Expert）支持Keysight/Agilent, Teradyne/GenRad, TRI, Hioki, SRC, Takaya, Seica等MDA/ICT/ATE/飞针测试程式制作，快速生成高精度测试程序，助力提升测试编程效率，缩短程式准备时间！
望友测试分析与制程软件（Test Expert）可实现对测试探针下针规则的灵活设置，并且可以设置尺寸、距离、类型、数量、优先级、强制位置 等规则细节，可同时根据多种规则进行综合评估，让选针结果更准确、更可靠！
√ 测试点尺寸分析
√ 测试点和板边/定位孔/不同高度元
√ 器件安全距离分析
√ 特殊网络测试点数量分析
√ 四线测试测试点分析
√ 阻焊层分析
√ 背钻孔分析
√ 优先级选点设置
√ 强制选点设置
√ 100/75/50/39mil/自定义探针类型
√ 支持多个选针规则并存
√ ......
望友测试分析与制程软件（Test Expert）提供智能自动化的选针结果审查功能，可以通过不可访问节点原因、网络名称/编号、测试针编号等多种方式进行选针结果审查，并可以实现交互式地查看确认！
√ 网络和节点分类
所有网络/可测试网络/不可测试网络
多引脚网络/单引脚网络
不可测试节点分类
√ 结果交互查询
从报告交互到图形
从图形交互到报告
节点不可测试原因
望友测试分析与制程软件（Test Expert）支持导入Gerber solder mask数据，和ECAD数据合并分析，自动分析出露铜节点。
行业现状：
· 因工艺原因修改了PCB阻焊，该修改不会返回到EDA设计数据中
· 部分行业版本老旧ECAD数据，不包含正确的solder mask信息
√ 版本比较：PCB改版后新旧版本ECAD数据自动比较
√ 差异比较：自动比较网络连接关系、元器件、测试点等差异
√ 比较报告：自动产生报告，支持输出excel/pdf/html格式
√ 智能提取：智能提取CAD、Gerber文件拼板信息，获取拼板位置关系数据
√ 自动扩展：自定义扩展任何拼板关系，按矩阵、阴阳、不同产品、任意旋转角度等，快速完成复杂拼板
绑定PDF原理图与PCB设计文件交互查询，快速发现问题点
包含覆盖率统计汇总、汇总图、网络可测性、元器件可测性、针点列表、并联元件等10余种信息
支持文本、Excel、PDF及 html等格式输出
综合评估ICT, AOI, AXI等不同方式对制造缺陷的检测覆盖率，元器件测试覆盖率评估采用漏件、空焊、短路、极性错误和错件这五类典型制造缺陷，让测试盲点一目了然！
